西安安列德电子科技有限公司的专利技术已获中国电子科技集团公（CETC）、中国航天科技集团公司（CASC）、中国兵器工业集团公司、中国船舶重工集团公司(CSIC)等旗下相关重点权威研究所的验证。通过我们的独有设计，可使相控阵天线在扫描角度正负60°时，阵列的单元和组件个数在同样孔径下减少至常规半波长满布相控阵的50%，同时整个天线的增益在整个扫描范围内不变，且大幅度地降低副瓣。扫描范围较小时，所需阵元可以更大程度地降低。

散热性，可靠性，和成本都因此得以大幅度改善。因此该技术的绝对优势和大规模应用前景，受到国内 40 余家相关研究所、企业、和著名专家的高度认可。